[发明专利]孔径测量装置在审
| 申请号： | 202110031524.7 | 申请日： | 2021-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN112880525A | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 李青;李赫然;廖民安;王耀君;范少荣;胡恒广 | 申请（专利权）人： | 河北光兴半导体技术有限公司;东旭光电科技股份有限公司;东旭科技集团有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/12 | 分类号： | G01B5/12 |
| 代理公司： | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人： | 陈庆超 |
| 地址： | 050035 河*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种孔径测量装置，用于测量待测孔的尺寸，该孔径测量装置包括移动组件、检测装置、至少两个接触件，接触件的底端设置有用于与待测孔的孔壁相抵触第一触头，移动组件用于在向下移动时驱动两个第一触头相互远离地张开，以使两个第一触头均与待测孔的孔壁相抵触，检测装置用于测量移动组件的滑动距离。通过上述孔径测量装置，在对待测孔进行测量过程中，不需要人为对待测孔的内径进行找准，具有测量速度快、测量精准度高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 孔径 测量 装置 | ||
【主权项】：
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