[发明专利]气密性射频MEMS器件的制作方法及气密性射频MEMS器件有效

专利信息
申请号: 202110036541.X 申请日: 2021-01-12
公开(公告)号: CN112777563B 公开(公告)日: 2023-09-26
发明(设计)人: 刘泽文;张玉龙 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;B81C3/00;B81B7/00;B81B7/02
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 李岩
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种气密性射频MEMS器件的制作方法及气密性射频MEMS器件,其中,该方法包括如下步骤:在衬底圆片上加工出TGV填实通孔结构;沉积生长出第一SiO2介质层,加工出传输线路及第一焊盘;沉积生长出第二SiO2介质层,加工出层间互联通孔结构;沉积生长出第三SiO2介质层,加工出下拉电极和第二焊盘;沉积生长出第四SiO2介质层,加工出接触凸点;沉积牺牲层,加工出键合环、锚点和上极板;释放牺牲层;制作封装盖板;进行圆片级金属键合;进行晶圆级植锡球并进行划片,从而得到最终的所述气密性射频MEMS器件。该方法制作出的气密性射频MEMS器件结构可靠,气密性好,射频性能好,寄生效应低,生产效率高,生产成本低,适于批量生产。
搜索关键词: 气密性 射频 mems 器件 制作方法
【主权项】:
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