[发明专利]一种真空镀膜OD在线测厚仪在审
| 申请号： | 202110038479.8 | 申请日： | 2021-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN112815859A | 公开（公告）日： | 2021-05-18 |
| 发明（设计）人： | 曹玉霞 | 申请（专利权）人： | 上海苗威科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 深圳深瑞知识产权代理有限公司 44495 | 代理人： | 刘慧玲 |
| 地址： | 201700 上海市青浦区赵巷*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种真空镀膜OD在线测厚仪，包括：主机体，其外侧设置有铝合金机架，且铝合金机架的中部开设有用于放置被侧材料的料槽，所述主机体内位于料槽的边侧位置处设置有用于测量被侧材料厚度的测量组件，该测量组件中的单片机可与CCD模块连接，并通过串口与PC端通讯；两组固定支架；其技术要点为，本发明为了克服现有的测量问题，本测厚仪使用测量镜头替代原OD测量探头有效解决了体积的局限，做到了覆盖整个膜宽的测量要求，行内称为面测量；本发明使用到带有撑架组件的盖板，在未使用时可对料槽进行覆盖防护，在展开使用时利用撑架组件可对被测材料进行支撑，方便被测材料在料槽内移动，避免传统被测材料在料槽内晃动，造成测量结果出现误差的情况。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 真空镀膜 od 在线 测厚仪 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海苗威科技有限公司，未经上海苗威科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110038479.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
