[发明专利]一种新型温度传感器高低温测试装置有效
| 申请号： | 202110045621.1 | 申请日： | 2021-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN112857621B | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 裴艳荣;李文昌;鉴海防 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01K15/00 | 分类号： | G01K15/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种新型温度传感器高低温测试装置，包括：箱体，用于改变箱体内部的测试温度并放置测试模块；测试模块，可拆卸设置于箱体内侧，用于进行手动测试或自动化测试；显示模块，位于箱体上，用于显示信息和接收输入数据；分拣模块，用于放置和转移待测元器件；控制模块，位于箱体内部，与箱体、测试模块、显示模块、分拣模块电性连接，用于控制测试装置稳定运行。其中，测试模块包括：手动测试模块和自动测试模块。本发明提供的新型温度传感器高低温测试装置结构简单，能够实现手动测试和自动测试两种测试模式，应用面广，并且能够实现批量元器件测试，极大提高了测试效率，节省测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 新型 温度传感器 低温 测试 装置 | ||
【主权项】：
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