[发明专利]半导体器件和使用接合线的区划屏蔽的方法有效
申请号: | 202110052611.0 | 申请日: | 2021-01-15 |
公开(公告)号: | CN113140539B | 公开(公告)日: | 2023-07-25 |
发明(设计)人: | Y·C·金;C·H·李;W·G·金 | 申请(专利权)人: | 星科金朋私人有限公司 |
主分类号: | H01L23/498 | 分类号: | H01L23/498;H01L23/60;H01L23/31 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 张凌苗;周学斌 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 半导体器件和使用接合线的区划屏蔽的方法。一种半导体器件具有衬底并且多个接合线以图案跨在衬底上设置。接合线的图案可以是多行接合线。多个电部件设置在衬底之上作为SIP模块。包封剂沉积在衬底、电部件和接合线之上。在包封剂中形成延伸到接合线的开口。开口可以是跨设置在衬底上的接合线延伸的沟槽,或者是单独地暴露多个接合线中的每个的多个开口。导电材料设置在开口中。在包封剂之上并且与导电材料接触地形成的屏蔽层。屏蔽层、导电材料和接合线减少了EMI、RFI和其他器件间干扰的影响。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 使用 接合 区划 屏蔽 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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