[发明专利]半导体器件和使用接合线的区划屏蔽的方法有效

专利信息
申请号: 202110052611.0 申请日: 2021-01-15
公开(公告)号: CN113140539B 公开(公告)日: 2023-07-25
发明(设计)人: Y·C·金;C·H·李;W·G·金 申请(专利权)人: 星科金朋私人有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L23/60;H01L23/31
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 张凌苗;周学斌
地址: 新加坡*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 半导体器件和使用接合线的区划屏蔽的方法。一种半导体器件具有衬底并且多个接合线以图案跨在衬底上设置。接合线的图案可以是多行接合线。多个电部件设置在衬底之上作为SIP模块。包封剂沉积在衬底、电部件和接合线之上。在包封剂中形成延伸到接合线的开口。开口可以是跨设置在衬底上的接合线延伸的沟槽,或者是单独地暴露多个接合线中的每个的多个开口。导电材料设置在开口中。在包封剂之上并且与导电材料接触地形成的屏蔽层。屏蔽层、导电材料和接合线减少了EMI、RFI和其他器件间干扰的影响。
搜索关键词: 半导体器件 使用 接合 区划 屏蔽 方法
【主权项】:
暂无信息
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