[发明专利]航空电子设备单粒子效应故障率计算方法及装置在审
| 申请号： | 202110055356.5 | 申请日： | 2021-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN112858818A | 公开（公告）日： | 2021-05-28 |
| 发明（设计）人： | 陈冬梅;王群勇;白桦 | 申请（专利权）人： | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 陈新生 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供航空电子设备单粒子效应故障率计算方法及装置，所述方法包括：获取航空电子设备的有效任务剖面辐射应力和有效器件敏感截面；基于所述有效任务剖面辐射应力和所述有效器件敏感截面计算得到所述航空电子设备的单粒子效应的有效软故障率和有效硬故障率；基于所述有效软故障率和所述有效硬故障率获取所述航空电子设备的有效单粒子效应故障率。本发明通过获取航空电子设备的有效任务剖面辐射应力和有效器件敏感截面，进一步获取航空电子设备的有效软故障率和有效硬故障率，最后得到航空电子设备的有效单粒子效应故障率，解决了目前国内外尚未有成熟的航空电子设备单粒子效应故障率计算程序和方法的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 航空 电子设备 粒子 效应 故障率 计算方法 装置 | ||
【主权项】：
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