[发明专利]物体缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质有效
申请号: | 202110062737.6 | 申请日: | 2021-01-18 |
公开(公告)号: | CN112700440B | 公开(公告)日: | 2022-11-04 |
发明(设计)人: | 张治亚 | 申请(专利权)人: | 上海闻泰信息技术有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/62 |
代理公司: | 北京超成律师事务所 11646 | 代理人: | 裴素英 |
地址: | 200062 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明的物体缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质,方法包括:获取待检测物体对应的多个轮廓的图形信息集;图形信息集中包含每个轮廓的轮廓中心、半径以及轮廓与轮廓中心的距离特征值;轮廓为曲线图形;对多个轮廓进行检测,当存在一个轮廓对应的距离特征值与半径的比值小于预设阈值,则确定待检测物体存在缺陷。与现有技术的区别在于,本申请是通过测量的每张图像的轮廓与中心点的距离参数与阈值进行比较,从而确定待检测物体是否缺陷,检测算法不再受到产线环境杂光的影响,也不再受到因为设备震动将图像拍的更大或者更小的影响,进一步提高了产线产品检测的准确率。 | ||
搜索关键词: | 物体 缺陷 检测 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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