[发明专利]一种激光芯片的多功能测试装置在审
| 申请号： | 202110075655.5 | 申请日： | 2021-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN112909726A | 公开（公告）日： | 2021-06-04 |
| 发明（设计）人： | 潘华东;李青龙;王俊;赵长福 | 申请（专利权）人： | 苏州长光华芯光电技术股份有限公司;苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司 |
| 主分类号： | H01S5/00 | 分类号： | H01S5/00 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 薛异荣 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市高新区昆仑山路189号*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供一种激光芯片的多功能测试装置，用于对激光芯片进行测试，包括桌面板，在桌面板上，设有：水平行走机构，用于控制激光芯片在水平方向上移动；透镜行走机构，用于固定透镜，并控制透镜的位置；偏振上下行走气缸，用于控制偏振的高度；校准热堆左右行走气缸，带动安装于其上的校准热堆左右移动，以测试激光芯片的校准热堆；远场水平行走机构，用于测试激光芯片在水平方向上的远场；远场垂直行走机构，用于测试激光芯片在垂直方向上的远场。可以对激光芯片的功率、远场水平、远场垂直、偏振及近场等性能进行测试，可以实现对激光芯片的多功能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 芯片 多功能 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州长光华芯光电技术股份有限公司;苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司，未经苏州长光华芯光电技术股份有限公司;苏州长光华芯半导体激光创新研究院有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110075655.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
