[发明专利]一种半导体晶圆的贴膜设备在审
申请号: | 202110079702.3 | 申请日: | 2021-01-21 |
公开(公告)号: | CN112820669A | 公开(公告)日: | 2021-05-18 |
发明(设计)人: | 黄嘉华 | 申请(专利权)人: | 黄嘉华 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;B08B5/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 362000 福建省*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种半导体晶圆的贴膜设备,其结构设有架台、防尘盖板、膜卷、运作台、控板,防尘盖板活动连接在架台的后侧顶部位置,膜卷嵌入安装在防尘盖板下方,运作台安装在架台上方,控板与架台为一体化结构且位于其前侧顶部位置,通过刀割柱始终在镂径中活动,侧周受抵体触压,附带的胶质物被抵截块拦截,对其有摩擦铲刮的效果,助撑接杆的伸缩弹性性质,辅助接触刀割柱而缓冲相互作用力,前抵端受力形变,令受挤囊内部气压变化,且在引径通透的结构下,使内腔内产生吸附力,可以将刀割柱侧周残有的絮状胶质物经由引径吸入,对刀割柱在作业中,及时进行附着物的清理。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造