[发明专利]一种半导体存储器测试软件的参数测试方法和装置有效
| 申请号： | 202110082956.0 | 申请日： | 2021-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN112397136B | 公开（公告）日： | 2021-05-14 |
| 发明（设计）人： | 彭梓莹;邓标华 | 申请（专利权）人： | 武汉精鸿电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人： | 张凯 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及一种半导体存储器测试软件的参数测试方法和装置，涉及半导体存储器测试技术领域，该方法包括以下步骤：根据半导体存储器的参数信息设定多种测试参数组合；根据半导体存储器的参数信息，设定多组预设错误数量组合；分别根据各预设错误数量组合配置半导体存储器，利用各测试参数组合测试配置后的各半导体存储器，并将各自对应的测试结果与对应的预设错误数量组合比对，验证各测试参数组合是否合理。本申请对测试参数进行合理设定并组合，对半导体存储器的坏块情况进行模拟，利用高效的验证方式对不同的测试参数组合进行验证，以求获得准确度较高的测试参数作为测试依据，从而充分保障了测试的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 存储器 测试 软件 参数 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉精鸿电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司，未经武汉精鸿电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110082956.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
