[发明专利]一种反射表面缺陷检测装置和控制方法在审

专利信息
申请号: 202110096579.6 申请日: 2021-01-25
公开(公告)号: CN112924462A 公开(公告)日: 2021-06-08
发明(设计)人: 周志峰;朱志玲;陶迁 申请(专利权)人: 上海工程技术大学
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/01;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/62;G06T7/70
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 赵继明
地址: 201620 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种反射表面缺陷检测装置,包括支撑框架、偏折术系统组件和移动平台组件,支撑框架包括上层框架和下层框架,上层框架的内部设有电脑主机、可编程逻辑控制器(PLC)和伺服电机驱动器,外侧设有控制面板和显示器,偏折术系统组件位于下层框架中,下层框架的底部设有支撑腿,移动平台组件的一端固定在下层框架中的偏折术系统组件的下方,另一端延伸出下层框架且底部设有支撑腿。与现有技术相比,本发明具有提高缺陷检测的准确性和稳定性、降低进行缺陷检测的成本等优点。
搜索关键词: 一种 反射 表面 缺陷 检测 装置 控制 方法
【主权项】:
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