[发明专利]膜电极构造体的检查方法有效
| 申请号： | 202110108656.5 | 申请日： | 2021-01-27 |
| 公开（公告）号： | CN113218344B | 公开（公告）日： | 2023-07-11 |
| 发明（设计）人： | 岛田航弥;藏田洋志;吉田升平;白石惠一 | 申请（专利权）人： | 本田技研工业株式会社 |
| 主分类号： | G01B15/02 | 分类号： | G01B15/02;G01N23/04;H01M8/1004 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 陈伟;周丽娜 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种膜电极构造体(1)的检查方法，包括下述工序：第1工序，其将能够检测第1电极催化剂层(12)及第2电极催化剂层(22)的元素和金属异物(40)的元素的检测介质沿着从第1电极层(12)侧朝向第2电极层(22)侧的厚度方向发送，获得检测信号的厚度方向分布；以及第2工序，其利用解析单元根据厚度方向分布中的检测信号的强度来确定金属异物(40)在厚度方向上的位置，并且，利用解析单元根据厚度方向分布中的检测信号的强度来确定第1电极催化剂层(12)及第2电极催化剂层(22)或电解质膜(30)在厚度方向上的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 电极 构造 检查 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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