[发明专利]荧光X射线分析装置在审
| 申请号： | 202110110048.8 | 申请日： | 2021-01-27 |
| 公开（公告）号： | CN113311014A | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 森久祐司 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种荧光X射线分析装置，能够防止在真空气氛下对液体试样进行测定。处理装置(60)构成为按照由使用者设定的分析条件来进行试样的分析。分析条件包括用于规定测定装置(20)的测定室内的气氛气体的状态的气氛条件。在测定装置(20)设置有排出测定室内的空气的排气装置。在由探测试样是否为液体的探测装置探测出试样为液体的情况下，在气氛条件被设定为了真空气氛时，处理装置(60)禁止或停止排气装置的动作。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 射线 分析 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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