[发明专利]一种适应高集成度半导体模块的封装结构在审

专利信息
申请号: 202110128123.3 申请日: 2021-06-07
公开(公告)号: CN113161301A 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 刘石桂;朱德进;王婕;张伟;钱伟;沈广飞;李前宝;马阳阳 申请(专利权)人: 天通凯美微电子有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/488;H01L21/60
代理公司: 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 11616 代理人: 王光建
地址: 314000 浙江省嘉兴*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种适应高集成度半导体模块的封装结构,包括基板、焊盘、集成电路封装、金球、锡球、开关、滤波器和热固形树脂,所述焊盘设于基板上,所述集成电路封装设于焊盘上,所述金球设于滤波器上,所述锡球设于开关上,所述金球与集成电路封装相连,所述锡球与集成电路封装相连,所述热固形树脂设于开关和滤波器上。本发明属于半导体模块封装技术领域,具体是一种适应高集成度半导体模块的封装结构,降低锡球、铜柱因贴装精度不够导致卡球、虚焊的风险,解决了芯片金球凸点超声焊接的不稳定因素,基板的焊盘开窗不受间距大小受限制。
搜索关键词: 一种 适应 集成度 半导体 模块 封装 结构
【主权项】:
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