[发明专利]用于良率分析和物理故障分析的先进单元感知故障模型在审
申请号: | 202110138409.X | 申请日: | 2021-02-01 |
公开(公告)号: | CN113204932A | 公开(公告)日: | 2021-08-03 |
发明(设计)人: | R·郭;B·阿彻 | 申请(专利权)人: | 新思科技有限公司 |
主分类号: | G06F30/392 | 分类号: | G06F30/392;G06F30/398;G06F115/06 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 章蕾 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请涉及用于良率分析和物理故障分析的先进单元感知故障模型。为了特定地识别半导体单元内的故障,检索与半导体单元设计相关联的SPICE网表,且在所述SPICE网表内识别一或多个晶体管特性。针对所述半导体单元执行先进单元感知故障模型,且为所述半导体芯片设计的单元的所述先进单元感知故障模型的一或多种故障测试方法传回结果。通过使作为所述故障测试方法的结果检测到的一或多个故障与所述SPICE网表内的一或多个晶体管特性相关来继续用于识别所述半导体单元内的故障的方法,且生成用于识别所述半导体芯片设计内的一或多个有故障的晶体管的用户界面。 | ||
搜索关键词: | 用于 分析 物理 故障 先进 单元 感知 模型 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于新思科技有限公司,未经新思科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110138409.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于Δ-∑调制器的补偿电路、对应设备和方法
- 下一篇:小样本视点估计