[发明专利]基于背景光的E-TPU鞋中底缺陷检测方法及系统在审

专利信息
申请号: 202110146375.9 申请日: 2021-02-03
公开(公告)号: CN112837289A 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 陈世强;李锐智;满伟珍;刘兴爱;田芳;张建才 申请(专利权)人: 湖北民族大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/194;G06T7/12;G06T7/136;G06T7/33;G06T7/62;G01N21/88
代理公司: 武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238 代理人: 张毅
地址: 445000 湖北省恩*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供了一种基于背景光的E‑TPU鞋中底缺陷检测方法及系统。该方法包括:搭建背景光源;基于背景光源采集被检测E‑TPU鞋中底的图像;基于被检测E‑TPU鞋中底的图像对被检测E‑TPU鞋中底位置进行配准及旋转,获得配准后鞋中底图像;对配准后鞋中底图像进行超像素分割,获得多个超像素;根据超像素对被检测E‑TPU鞋中底进行缺陷检测,获得缺陷检测结果。相应地,该系统包括:背景光源搭建模块,配准和旋转模块,超像素分割模块、缺陷检测模块。本发明系统结构简单,智能化,被用来检测E‑TPU鞋中底表面的缺陷,并将该类缺陷预先分拣出,降低对后续缺陷检测过程的干扰,也可以实现在背景光源下对E‑TPU鞋中底缺陷在线检测,提高了缺陷检测效率和准确性。
搜索关键词: 基于 背景 tpu 鞋中底 缺陷 检测 方法 系统
【主权项】:
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