[发明专利]反射式灰阶测试卡测量系统及方法有效
| 申请号： | 202110148477.4 | 申请日： | 2021-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN112945867B | 公开（公告）日： | 2023-07-07 |
| 发明（设计）人： | 高红波;李红梅;何敏;胡常安;付天坤;苏昌林;苏红雨 | 申请（专利权）人： | 中国测试技术研究院 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25;G01N21/47;G06T7/00;G06T7/90 |
| 代理公司： | 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 | 代理人： | 陈胜 |
| 地址： | 610056 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种反射式灰阶测试卡测量系统及方法，包括光源系统、准直系统、转角系统和接收器，所述准直系统为光轨，所述光源系统和样品架设置在光轨上，并在一条直线上，且光源系统与样品架之间设置有光阑；所述转角系统45/0几何测量条件的转角平台，用于控制测量壁和样品架旋转；所述接收器为安装在测量壁上的光谱分光辐射度计；在卤素灯周围加装平行光管做光源，采用双轴步进电机和基于PCI接口的微机机内置式PCI试验卡，实现45/0转角系统的自动控制；用已知标准值的标准白板做标准，用相对测量的方法，实现反射式光密度的无接触测量。 | ||
| 搜索关键词： | 反射 式灰阶 测试 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
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