[发明专利]一种半导体测试用多方式测试系统在审
| 申请号： | 202110150442.4 | 申请日： | 2021-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN112798921A | 公开（公告）日： | 2021-05-14 |
| 发明（设计）人： | 杨炜光;张永健;郭胜岩;李耀武;白晓辉;叶晋涛 | 申请（专利权）人： | 西安易恩电气科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 710000 陕西省西安*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种半导体测试用多方式测试系统，包括PC主机以及与PC主机之间信号连接的DA模块和AD模块，PC主机通过DA模块信号连接有信号控制模块，信号控制模块信号连接有功率输出模块，功率输出模块信号连接有测试模块，测试模块用于完成测试器件的测试作业，测试模块还信号连接有采样模块，采样模块信号连接有信号处理模块，信号处理模块通过AD模块将测试信号反馈至PC主机上，完成测试器件的测试过程，本发明通过对测试系统中的信号控制模块和功率输出模块进行调整，使得测试过程中信号能灵活调整，与功率输出模块配合，完成信号的放大输出，同时将测试信号进行灵活采样，能得到精准的采集，便于完成半导体的测试过程。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 测试 多方 系统 | ||
【主权项】：
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