[发明专利]一种恒温测试系统及测试方法在审
| 申请号： | 202110152637.2 | 申请日： | 2021-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN112964972A | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | 曾祥幼;张杰;胡舜涛 | 申请（专利权）人： | 上海陆芯电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/327 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国（*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种恒温测试系统及测试方法，其属于半导体开关管测试技术领域，恒温测试系统用于对半导体开关管在恒定温度下进行测试，包括：恒温块，所述恒温块上设置有绝缘导热垫片，所述半导体开关管设于所述绝缘导热垫片上；加热套件，与所述恒温块连接，用于对所述恒温块进行加热；温度传感器，设于所述恒温块上，用于测试所述恒温块的温度；半导体开关管底座，所述半导体开关管与所述半导体开关管底座连接；示波器，所述半导体开关管底座与所述示波器连接。本发明能够对半导体开关管在设定温度下进行准确测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 恒温 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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