[发明专利]紧缩场天线测量系统、构建其的方法、装置及电子设备有效

专利信息
申请号: 202110156127.2 申请日: 2021-02-04
公开(公告)号: CN112834829B 公开(公告)日: 2021-12-31
发明(设计)人: 俞俊生;姚远;于海洋;陈天洋;陈晓东;陈雨晴;李峙;张亮 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 代理人: 丁芸;马敬
地址: 100876 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开实施例提供了一种紧缩场天线测量系统、构建其的方法、装置及电子设备。紧缩场天线测量系统包括馈源、主反射镜、第一赋形副反射镜和第二赋形副反射镜,其中:第一赋形副反射镜用于将馈源发出的电磁波反射至第二赋形副反射镜;第二赋形副反射镜用于将第一赋形副反射镜反射的电磁波反射至主反射镜;主反射镜用于将第二赋形副反射镜反射的电磁波反射为平面电磁波,平面电磁波形成系统出射场;且,第一赋形副反射镜和/或第二赋形副反射镜的镜面为基于B样条获得的曲面镜面。
搜索关键词: 紧缩 天线 测量 系统 构建 方法 装置 电子设备
【主权项】:
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