[发明专利]二次雷达探测方法、装置、设备、系统、介质及程序产品在审
申请号: | 202110163065.8 | 申请日: | 2021-02-05 |
公开(公告)号: | CN113030946A | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
发明(设计)人: | 王向荣;张吉发 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01S13/78 | 分类号: | G01S13/78 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 虞浩;刘芳 |
地址: | 100191 北京市海淀区学*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请提供的二次雷达探测方法、装置、设备、系统、介质及程序产品,该方法通过首先获取二次雷达的控制指令,然后根据控制指令重新确定第一二次雷达或第二二次雷达的询问天线阵列,该询问天线阵列为由询问方向确定的稀疏圆形相控阵,并通过询问天线阵列向各个探测对象发送询问信号,最后利用多接收机探测模型,根据应答机返回的第一和第二应答信号确定探测对象的状态信息,包括:运动状态、空间位置状态、身份识别标识等。通过第一和第二二次雷达的配合,双重定位识别探测对象的运动状态,使得识别和定位更加准确,并且采用射频开关来选择询问天线阵列实现全方位快速扫描,不但提高了二次雷达系统的航空管制能力,还降低了成本,易于拓展。 | ||
搜索关键词: | 二次 雷达 探测 方法 装置 设备 系统 介质 程序 产品 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学,未经北京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110163065.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种可批量操作的纽扣裂痕检测装置
- 下一篇:一种一体式充放电枪及其控制方法