[发明专利]一种快速定心的光学元件中心厚度精密测量仪在审
| 申请号： | 202110167053.2 | 申请日： | 2021-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN112985228A | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 王芝;蔡锦浩;谢国兵;付晓庆;翁锴强;张永宁;黄玉;张明;韩俊;王慧娜;薛永刚;冯攀;马彰鑫 | 申请（专利权）人： | 西安应用光学研究所 |
| 主分类号： | G01B5/06 | 分类号： | G01B5/06 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 刘二格 |
| 地址： | 710065 陕西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种快速定心的光学元件中心厚度精密测量仪，包括一端开设有60°顶角V型开口槽的角度板底板，待测透镜放置在V型开口槽；角度板底板上表面设有导轨，表头支架沿表头支架导轨往复滑动，表头支架上设有千分尺表头，表头支架往复滑动时，千分尺表头沿V型开口槽顶角平分线方向运动；角度板底板底部还设有测量尺，测量尺沿V型开口槽顶角平分线方向布置；表头支架和测量尺同方向运动，速度比为2:1；初始时，测量尺与表头支架均位于V型开口槽顶点位置，测量尺运动至接触待测透镜时，测量尺运动距离为待测透镜的半径r，此时表头支架上的千分尺表头运动距离为2r，位于待测透镜的中心上方。本发明能够适用于各种不同半径的圆形光学元件的中心厚度的高效、高精度测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 定心 光学 元件 中心 厚度 精密 测量仪 | ||
【主权项】：
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