[发明专利]紫外-近红外宽波段微区光致发光光谱测试装置有效
| 申请号： | 202110177049.4 | 申请日： | 2021-02-07 |
| 公开（公告）号： | CN113008849B | 公开（公告）日： | 2022-08-02 |
| 发明（设计）人： | 李沫;陈飞良;张健 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 51268 | 代理人： | 王伟 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种紫外‑近红外宽波段微区光致发光光谱测试装置，包括激发光源系统和光谱测量及照明观察系统；激发光源系统包括高重频超快激光源、激光脉冲选择器、第一分光器和谐波发生器；光谱测量及照明观察系统包括显微物镜、恒温样品池、六轴六足精密电动位移台、透镜、光栅光谱仪、CCD相机、光电倍增管PMT、电脑控制端、光电探测器、观测样品表面的成像相机、光纤耦合的LED光源。本发明采用高重频超快激光源，与激光脉冲选择器及谐波发生器结合，构成激发波长宽波段可调、重频可调的激发光源，大大拓展了传统方法在材料体系上的限制，可以实现对PL光谱、荧光寿命及二阶相关性的测试，从而能够对更丰富样品特性和器件性质进行研究。 | ||
| 搜索关键词： | 紫外 红外 波段 光致发光 光谱 测试 装置 | ||
【主权项】：
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