[发明专利]芯片测试电路及方法在审
| 申请号： | 202110179071.2 | 申请日： | 2021-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN112986797A | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 李可;李卓研;陈耀璋;朱力强 | 申请（专利权）人： | 昂宝电子（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 田琳婧 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供了一种芯片测试电路和方法。该芯片测试电路包括：模式判断模块，被配置为基于芯片的特定端口处的端口信号判断是否使芯片进入特定测试模式，并基于判断结果生成用于使能芯片进入特定测试模式或正常工作模式的模式使能信号；模式锁存模块，被配置为通过对模式使能信号进行采样和锁存生成模式锁存信号，以基于模式锁存信号控制芯片进入并在下电前一直处于特定测试模式或正常工作模式。这里，由于利用模式锁存信号控制芯片进入特定测试模式或正常工作模式后在下电前一直处于特定测试模式或正常工作模式，可以避免芯片在处于正常工作模式时误进入特定测试模式导致的芯片工作异常甚至炸机。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
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