[发明专利]一种用于半导体温度控制的温控系统及温控方法有效

专利信息
申请号: 202110179156.0 申请日: 2021-02-09
公开(公告)号: CN112965546B 公开(公告)日: 2022-05-24
发明(设计)人: 常鑫;刘紫阳;宋朝阳;董春辉;冯涛;李文博;芮守祯;何茂栋;曹小康 申请(专利权)人: 北京京仪自动化装备技术股份有限公司
主分类号: G05D23/20 分类号: G05D23/20
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 张建利
地址: 100176 北京市大兴区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种用于半导体温度控制的温控系统及温控方法,涉及半导体制造设备领域,温控系统包括制冷装置、循环装置和控制装置,循环装置包括加热器、水箱、水泵、第一温度传感器、第二温度传感器和控制阀,水泵的出口与制冷装置的入口连通,制冷装置的出口分别与控制阀的第一接口、加热器的入口连通,加热器的出口与负载设备的入口连通,负载设备的出口与水箱的出口共同连接水泵的入口,水箱的入口与控制阀的第二接口连通。通过在温控系统处于降温或升温状态关闭控制阀,降低换热液体的量,提高温控系统升温或降温的速度,缩短单个工艺周期,提高芯片制程效率;通过在空载或负载状态增加换热液体的量,提高温控系统的温控稳定性和温控精度。
搜索关键词: 一种 用于 半导体 温度 控制 温控 系统 方法
【主权项】:
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