[发明专利]一种针对半导体存储器老化测试的离线调试方法及装置有效
| 申请号： | 202110183531.9 | 申请日： | 2021-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN112527690B | 公开（公告）日： | 2021-05-18 |
| 发明（设计）人： | 杨坤;邓标华 | 申请（专利权）人： | 武汉精鸿电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G11C29/56 |
| 代理公司： | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人： | 张凯 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种针对半导体存储器老化测试的离线调试方法及装置，涉及半导体存储器测试技术领域，该方法包括以下步骤：建立用于替代FPGA的所有寄存器的自定义存储空间，在FPGA的所有寄存器地址到自定义存储空间的存储地址之间建立映射；当需要访问FPGA的Start寄存器时，调用ALPG模块从FPGA的PC寄存器读取的存储地址开始模拟运行Pattern，将运行中断或结束的状态写入FPGA的Status寄存器；循环查询Status寄存器的值，根据查询结果选择继续运行Pattern或执行后续测试项目。本申请基于文件映射方式对FPGA进行模拟化处理，降低硬件设备的成本，提高测试工作的通用性和便利性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 半导体 存储器 老化 测试 离线 调试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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