[发明专利]三维测量装置在审
| 申请号： | 202110187715.2 | 申请日： | 2021-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN113295110A | 公开（公告）日： | 2021-08-24 |
| 发明（设计）人： | 广瀬和义;龟井宏记;杉山贵浩;渡边明佳 | 申请（专利权）人： | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25;H01S5/06 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 杨琦 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 三维测量装置(101)具备：一个或多个光源部(102)，其对被测量物(SA)照射具有规定图案的测量光(105)；一个或多个摄像部(103)，其对被照射了测量光(105)的被测量物(SA)进行摄像；测量部(104)，其基于摄像部(103)的摄像结果测量被测量物(SA)的三维形状，光源部(102)由M点振荡的S－iPMSEL(1)构成。 | ||
| 搜索关键词： | 三维 测量 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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