[发明专利]光检测系统、放电概率算出方法以及受光量测定方法在审
申请号: | 202110190077.X | 申请日: | 2021-02-18 |
公开(公告)号: | CN113340413A | 公开(公告)日: | 2021-09-03 |
发明(设计)人: | 小沼骏;森雷太 | 申请(专利权)人: | 阿自倍尔株式会社 |
主分类号: | G01J1/02 | 分类号: | G01J1/02;G01J1/44 |
代理公司: | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人: | 肖华 |
地址: | 日本东京都千*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 即便在部分噪声成分的放电概率未知的情况下也能够算出受光量。本发明的光检测系统具备:放电概率算出部,针对使来自已知光量的光源的光入射至光传感器的第1状态、光源的点亮/熄灭与第1状态相同且施加至光传感器的驱动脉冲电压的脉冲宽度不同于第1状态的第2状态、光源的点亮/熄灭不同于第1状态、第2状态且脉冲宽度与第1状态相同的第3状态、光源的点亮/熄灭与第3状态相同且脉冲宽度与第2状态相同的第4状态算出放电概率;放电概率算出部,根据放电概率算出部算出的放电概率和脉冲宽度来算出光传感器的正规、非正规放电的放电概率;受光量算出部,根据放电概率算出部算出的放电概率和脉冲宽度来算出光传感器的受光量。 | ||
搜索关键词: | 检测 系统 放电 概率 方法 以及 受光量 测定 | ||
【主权项】:
暂无信息
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