[发明专利]一种地质剖面厚度测量装置在审
| 申请号： | 202110191110.0 | 申请日： | 2021-02-19 |
| 公开（公告）号： | CN112797908A | 公开（公告）日： | 2021-05-14 |
| 发明（设计）人： | 李天祺;鞠星;刘建宇;陈洁;张贺然 | 申请（专利权）人： | 中国自然资源航空物探遥感中心 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 刘凤玲 |
| 地址： | 100083 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种地质剖面厚度测量装置，包括转动连接的主测量模块和副测量模块以及测量模块；所述主测量模块包括主激光测距模块和主惯导模块；所述主激光测距模块用于测量所述主测量模块与待测点间的距离信息；所述主惯导模块用于测量所述主测量模块的三维姿态信息；所述副测量模块包括副激光测距模块和副惯导模块；所述副激光测距模块用于测量所述副测量模块与基准点间的距离信息；所述副惯导模块用于测量所述副测量模块的三维姿态信息；所述测量模块用于测量地质剖面厚度。本发明通过非接触测量方式获取地质剖面厚度信息，有效提高了野外调查中地质剖面的测量精确度、工作效率与安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 地质 剖面 厚度 测量 装置 | ||
【主权项】：
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