[发明专利]热导测量装置、系统及方法在审
申请号: | 202110196255.X | 申请日: | 2021-02-22 |
公开(公告)号: | CN113008929A | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
发明(设计)人: | 何阳;孙华锐;张亮辉 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学(深圳) |
主分类号: | G01N25/18 | 分类号: | G01N25/18;G01N25/20;G01N1/44 |
代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人: | 陈卓宏 |
地址: | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及热导测量设备技术领域,提供一种热导测量装置、系统及方法,上述热导测量装置包括激光发生器、光路组件、非相干光源、入射光纤、接收光纤和光电探测器,激光发生器通过光路组件向微纳薄膜材料投射加热激光且在微纳薄膜材料上形成第一光斑,非相干光源通过入射光纤向微纳薄膜材料投射探测光且在微纳薄膜材料上形成与第一光斑相重合的第二光斑,探测光经微纳薄膜材料反射形成第一反射光,光电探测器通过接收光纤接收第一反射光,由于探测光为非相干光,有效避免探测光产生干涉效应,有效提高热导测量装置的测量精度;通过入射光纤和接收光纤分别实现对探测光的投射和对第一反射光的接收,有效简化光路结构,提高可操作性。 | ||
搜索关键词: | 测量 装置 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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