[发明专利]深度检测装置和电子设备在审
| 申请号： | 202110197871.7 | 申请日： | 2021-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN113009494A | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 蔡斐欣;张劭宇;葛丛 | 申请（专利权）人： | 曜芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/08 | 分类号： | G01S17/08;G01S7/40 |
| 代理公司： | 北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329 | 代理人： | 孙涛;毛威 |
| 地址： | 中国台湾台北市中*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本申请提供一种深度检测装置和电子设备。所述深度检测装置包括发射模组，所述发射模组用于向检测目标发射散斑光信号，所述发射模组被配置为使得所述散斑光信号产生正畸变；成像镜头，所述成像镜头用于将所述散斑光信号照射到所述检测目标后返回的深度光信号成像至光电传感器，其中所述成像镜头被配置为使得所述深度光信号的成像产生负畸变；光电传感器，所述光电传感器用于将所述深度光信号转化为电信号,其中，所述负畸变与所述正畸变的畸变量的绝对值的差异不超过0.05，所述负畸变与所述正畸变分别为畸变量绝对值大于或等于0.03的畸变。本申请实施例能够有效改善镜头畸变问题，提高散斑利用率，提升镜头相对照度，提高系统深度分辨率。 | ||
| 搜索关键词： | 深度 检测 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
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