[发明专利]设备批量测试方法、装置、计算机设备及介质在审
申请号: | 202110200498.6 | 申请日: | 2021-02-23 |
公开(公告)号: | CN112799958A | 公开(公告)日: | 2021-05-14 |
发明(设计)人: | 杨伟;田芳 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 杨明莉 |
地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本申请涉及一种设备批量测试方法、装置、计算机设备及介质,所述方法包括:向各所述待测设备写入对应的测试标识,其中,不同所述待测设备的测试标识不同;获取各所述待测设备的设备标识并生成设备标识序列;根据所述设备标识序列依次向各所述待测设备发送对应的测试用例,以使得各所述待测设备执行对应的测试用例;生成各所述待测设备的测试结果,所述测试结果对应相应的测试标识。本申请通过利用待测设备本身的设备标识作为桥梁,建立待测设备的测试结果与向该待测设备写入的测试标识的对应关系,并输出对应相应的测试标识的测试结果,测试成本低,效率高且可移植性好。 | ||
搜索关键词: | 设备 批量 测试 方法 装置 计算机 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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