[发明专利]一种自动校验数据的SRAM安全存储系统及其方法有效
| 申请号： | 202110200852.5 | 申请日： | 2021-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN112908394B | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 李博;苏泽鑫;宿晓慧;王磊;卜建辉;赵发展;韩郑生 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34;G11C16/22;G11C29/00;G11C29/10 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人： | 窦艳鹏 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种自动校验数据的SRAM安全存储系统，属于SRAM存储技术领域，解决了现有技术不能准确衡量SRAM芯片的老化程度、不能给出自动校验SRAM安全性的问题。该系统包括：计时模块，用于监测各个SRAM芯片的待机时间是否超过预定值，在超过预定值后，向安全检测模块发送待测SRAM芯片的检测信号；安全检测模块，用于根据接收到的检测信号，对待测SRAM芯片进行老化压印力度分析，将获得的老化压印力度度量结果与预设阈值进行比较，判断待测SRAM芯片安全性能是否达标，不达标时将待测SRAM芯片的数据移动至备用存储模块，并启动校准模块；校准模块，用于对待测SRAM芯片进行复位和校准；多个SRAM芯片，用于存储主机发送的地址以及相应数据，互为备用存储模块。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 自动 校验 数据 sram 安全 存储系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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