[发明专利]基于Shmoo测试的集成电路芯片测试方法、系统及介质在审
| 申请号： | 202110203717.6 | 申请日： | 2021-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN113075527A | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 蒋信;刘瑞盛;喻涛 | 申请（专利权）人： | 普赛微科技（杭州）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人： | 孙柳 |
| 地址： | 310000 浙江省杭州市临安区*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供的基于Shmoo测试的集成电路芯片测试方法，包括获取被测集成电路芯片的被测参数信息、被测集成电路芯片关联数据；将被测参数信息、被测集成电路芯片关联数据输入至预设机器学习模型中，预设机器学习模型输出与被测集成电路芯片对应的预测的工作边界结果和预测误差；根据预测的工作边界结果和预测误差在与被测参数信息对应的预设设定值取值区域内选取测试值取值区域；根据被测参数信息以及测试值取值区域控制自动测试机对被测集成电路芯片进行Shmoo测试得到精准的工作边界结果。本发明的基于Shmoo测试的集成电路芯片测试方法，减少了测试所需的时间，避免了因测试时间较长对产品的开发周期和测试成本造成影响。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 shmoo 测试 集成电路 芯片 方法 系统 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于普赛微科技（杭州）有限公司，未经普赛微科技（杭州）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110203717.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种电磁打桩锤
- 下一篇：一种贴合紧密的胶合板饰面贴合装置
