[发明专利]串扰效应测试方法、电路和装置有效
| 申请号： | 202110210378.4 | 申请日： | 2021-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN113030609B | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 徐帆 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 朱颖;黄健 |
| 地址： | 230011 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供一种串扰效应测试方法、电路和装置。所述串扰效应测试方法包括获取测试信号和干扰输入信号，将所述测试信号输入至模拟得到的串扰效应测试电路，得到被干扰信号，当所述被干扰信号的上升时间或所述被干扰信号的下降时间大于预设时间阈值时，确定所述被测集成电路存在过度的串扰效应。所述串扰效应测试电路包括第一电路、N个第二电路和N个电容。第一电路用于模拟被测试集成电路中被干扰的第一信号电路；N个第二电路用于模拟被测试集成电路中对第一信号电路进行干扰的N个第二信号电路；电容的电容值是根据测得的第二信号电路和第一信号电路之间的耦合电容值确定的。本申请的方法可以对集成电路的串扰效应进行准确和高效的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 效应 测试 方法 电路 装置 | ||
【主权项】：
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