[发明专利]一种低导通压降肖特基二极管结构及其制备方法在审
申请号: | 202110217571.0 | 申请日: | 2021-02-26 |
公开(公告)号: | CN113013259A | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
发明(设计)人: | 赵杰;王英民;孙有民;王成熙;王清波 | 申请(专利权)人: | 西安微电子技术研究所 |
主分类号: | H01L29/872 | 分类号: | H01L29/872;H01L29/36;H01L21/329 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 王艾华 |
地址: | 710065 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种低导通压降肖特基二极管结构及其制备方法,该结构在N型外延层中设置环状的P型增压环、N型引出区和N型区表面接触区,本发明为充分降低N型引出区串联电阻,设计环形结构的N型引出区,通过扩散工艺形成高浓度的N型深磷层,该工艺形成的肖特基二极管由于从N型表面接触区到N+埋层之间增加了高浓度的深磷层,即N型引出区,能有效降低二者之间的外延层串联电阻,增大接触面积,从而获得更低的导通电阻。 | ||
搜索关键词: | 一种 低导通压降肖特基 二极管 结构 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
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