[发明专利]半导体结构的制作方法有效

专利信息
申请号: 202110219010.4 申请日: 2021-02-26
公开(公告)号: CN113025991B 公开(公告)日: 2022-07-22
发明(设计)人: 赵堃 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: C23C16/34 分类号: C23C16/34;C23C16/455;C23C16/50;H01L21/28
代理公司: 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人: 成丽杰
地址: 230601 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明实施例提供一种半导体结构的制作方法,包括:提供基底;采用原子层沉积工艺,在所述基底上形成氮化硅膜层,所述原子层沉积工艺包括多个循环沉积步骤,在每个所述循环沉积步骤中向所述基底表面提供硅源气体和氮源气体;其中,在每个所述循环沉积步骤之前,还包括修复步骤,所述修复步骤中,向所述基底表面提供含氢的修复气体,所述修复气体包含极性分子,以修复所述基底表面的损伤。本发明实施例有利于修复基底表面的损伤,从而有利于提高半导体结构的良率和电学性能。
搜索关键词: 半导体 结构 制作方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长鑫存储技术有限公司,未经长鑫存储技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110219010.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top