[发明专利]快速判断取向硅钢初次再结晶晶粒直径的方法在审
| 申请号： | 202110219142.7 | 申请日： | 2021-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN113029778A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 张宏岭;王雄奎;向前;贾丽晖;熊立波;余翔;陈文聪;喻越;李胜金;张文汉 | 申请（专利权）人： | 武汉钢铁有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08;G01N15/02;C21D1/26;C21D6/00;C21D8/12;C21D9/00;C22C38/00;C22C38/02;C22C38/04;C22C38/06 |
| 代理公司： | 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 | 代理人： | 胡镇西;张继东 |
| 地址： | 430083 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及取向硅钢制造技术领域，公开了一种快速判断取向硅钢初次再结晶晶粒直径的方法，包括如下步骤：选取取向硅钢热轧来料，进行生产，对产出的钢板在同部位各取若干个拉伸试样，加工拉伸和分析，取得屈服强度，在拉伸试样部位两侧连续制取金相试样，计算对应拉伸试样的平均晶粒直径D，将性能数据和平均晶粒直径进行统计分析，建立屈服强度与晶粒直径的对应关系，实际生产时，在产出的钢板上取判断试样，取得判断试样的屈服强度，进而取得判断试样的晶粒直径。本发明快速判断取向硅钢初次再结晶晶粒直径的方法，通过机械性能检验，来间接指示初次晶粒的大小，检测速度快，评价更准确。 | ||
| 搜索关键词： | 快速 判断 取向 硅钢 初次 再结晶 晶粒 直径 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉钢铁有限公司，未经武汉钢铁有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110219142.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
