[发明专利]显影处理装置和显影处理方法在审
申请号: | 202110220216.9 | 申请日: | 2021-02-26 |
公开(公告)号: | CN113311672A | 公开(公告)日: | 2021-08-27 |
发明(设计)人: | 田中公一朗;福田昌弘 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | G03F7/30 | 分类号: | G03F7/30 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供显影处理装置和显影处理方法:短尺寸的第1显影液供给部和长度为俯视时基板直径以上的长尺寸的第2显影液供给部能共用接收从基板飞散的显影液的液接收部。显影处理装置对基板上的抗蚀膜进行显影,具有:基板保持部,将基板保持为水平;旋转机构,使基板保持部绕铅垂轴旋转;第1和第2显影液供给部,向基板供给显影液;以及液接收部,接收来自基板的显影液,第1显影液供给部长度为俯视时小于基板直径,第2显影液供给部长度为俯视时基板直径以上,液接收部的环状的第1和第2环状壁具有俯视时直径大于基板直径的圆状的开口,第2环状壁设于第1环状壁上方,第1和第2环状壁能彼此独立升降,第1环状壁与第2环状壁在铅垂方向上距离可变。 | ||
搜索关键词: | 显影 处理 装置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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