[发明专利]检测系统及检测方法有效
| 申请号： | 202110220773.0 | 申请日： | 2021-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN112859400B | 公开（公告）日： | 2023-05-30 |
| 发明（设计）人： | 吴瑞习 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 徐世俊 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种检测系统及方法，包括：检测平台，检测平台包括多个待检测区域，待检测区域用于放置待检测的显示面板；阵列测试器，用于检测显示面板是否异常；用于检测阵列测试器异常的至少一个检测装置，每个检测装置包括：第一支架，第一支架的长度与待检测区域的长度/宽度匹配；光学检测单元，设置在第一支架上，可在第一支架上移动，用于检测阵列测试器是否存在异常；清洁单元，设置在第一支架上，可在第一支架上移动，用于清除阵列测试器上的杂质。该检测系统及方法，新增清洁单元清洁阵列测试器表面的杂质，新增光学检测单元检测阵列测试器表面是否异常；减少阵列测试器的损耗，降低因阵列测试器表面异常造成的产品损坏，降低生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
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