[发明专利]一种用于托卡马克等离子体密度测量的相位差检测方法在审

专利信息
申请号: 202110224155.3 申请日: 2021-03-01
公开(公告)号: CN112861067A 公开(公告)日: 2021-05-28
发明(设计)人: 舒双宝;赖金;王子艺;张育中;郎贤礼;陈晶晶 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: G06F17/14 分类号: G06F17/14;G06F17/16
代理公司: 合肥中博知信知识产权代理有限公司 34142 代理人: 张加宽
地址: 230000 *** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种用于托卡马克等离子体密度测量的相位差检测方法,涉及等离子体密度测量技术领域,包括AD模块、FPGA模块,所述AD模块包括信号调理电路和采样电路,所述FPGA模块包括数据复用单元、ap‑FFT单元、相位差计算单元和相位叠加单元。本发明方法可以用来提高数据的利用率,进而提高了输出结果的时间分辨率,具有可靠性高,抗干扰能力强,实时性好的优点;并且采用了ap‑FFT方法对等离子体相位进行测量,减少了FFT的栅极效应,提高相位差测量的精度。
搜索关键词: 一种 用于 马克 等离子体 密度 测量 相位差 检测 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥工业大学,未经合肥工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110224155.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top