[发明专利]一种基于IEEE标准Chiplet电路测试方法在审
| 申请号： | 202110233827.7 | 申请日： | 2021-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN112595966A | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 蔡志匡;王运波;宋健;周国鹏;王子轩 | 申请（专利权）人： | 南京邮电大学 |
| 主分类号： | G01R31/3177 | 分类号： | G01R31/3177;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人： | 王素琴 |
| 地址： | 210023 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于IEEE 1687标准Chiplet电路测试方法，所述技术包含以下步骤：1）读取所有设计的ICL和PDL，使用ICL和PDL对完整的芯片进行建模；2）执行IEEE 1687设计规则检查，以验证指令和其他组件(如SIB等)是否正确地连接到设计的各个层次；3）进行芯粒到芯片的测试向量重定向，生成用于测试芯片的测试向量；4）将生成的重新定向的IEEE 1687 PDL转换为testbench和标准测试矢量格式；本发明提供的Chiplet测试技术，可以实现测试向量重定向到芯片，并且测试结构更加灵活，可以在不增加面积成本的情况下提高测试有效性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 ieee 标准 chiplet 电路 测试 方法 | ||
【主权项】：
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