[发明专利]测试方法以及测试系统有效
| 申请号： | 202110236549.0 | 申请日： | 2021-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN112767993B | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 郝镇齐;吴华强;高滨;唐建石;丁三川;钱鹤 | 申请（专利权）人： | 北京忆元科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G06N3/0464;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 彭久云 |
| 地址： | 100083 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供一种测试方法以及测试系统，该方法包括：根据待测对象，提供指令，其中，待测对象包括以下任一种：存算一体芯片包括的存储器阵列、存算一体芯片包括的具有用于存算一体操作的部分功能的存算一体计算单元、包括互联的多个存算一体芯片的存算一体芯片集；获取指令并对指令进行解析得到主控信号；基于主控信号，控制待测对象中的存储器阵列存储矩阵数据以及获取测试用的数字信号输入数据，并控制实现基于模拟信号的运算过程，得到测试用的运算结果；将运算结果与目标结果进行比较得到测试结果。该测试方法可对存算一体芯片各部分是否能正常工作及其性能进行充分地评估，实现对于存算一体芯片的快速研发与测试需求。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 以及 系统 | ||
【主权项】：
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