[发明专利]一种谱域光学相干层析测量系统及测量方法在审

专利信息
申请号: 202110239011.5 申请日: 2021-03-04
公开(公告)号: CN112595679A 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 周辉 申请(专利权)人: 季华实验室
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G01J3/28;G01J3/02
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 曹卫良
地址: 528200 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供的谱域光学相干层析测量系统及测量方法,所述宽带光源发出的光经过所述时空波包生成单元形成预设时空分布的波包,所述带宽光束经所述相干层析测量光路传输至所述采集处理单元,所述采集处理单元获取入射光束的信号并分析处理再传输至所述控制单元,所述控制单元用于根据入射的光束信息进行图像显示,本发明提供的谱域光学相干层析测量系统及测量方法,利用时空波包技术将宽带光源出射光调制成为特定的时空波包,该时空波包在折射率变化的介质中传播速度一致,在光学系统测量中不存在色散,不需要增加额外的色散补偿硬件和软件,大大提升了谱域光学层析测量精度和应用范围。
搜索关键词: 一种 光学 相干 层析 测量 系统 测量方法
【主权项】:
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