[发明专利]被检测体的平坦度测量装置在审
申请号: | 202110244239.3 | 申请日: | 2021-03-05 |
公开(公告)号: | CN113358039A | 公开(公告)日: | 2021-09-07 |
发明(设计)人: | 林用賱 | 申请(专利权)人: | 三星显示有限公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06;G01B11/30 |
代理公司: | 北京金宏来专利代理事务所(特殊普通合伙) 11641 | 代理人: | 朴英淑 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供一种被检测体的平坦度测量装置,包括:激光光源,配置在所述被检测体的上部并且产生具有从所述被检测体能够被反射的波长的激光;标准具干涉仪,配置在所述被检测体与所述激光光源之间,并且将所述激光变换成照射到所述被检测体的激光阵列;以及分析部,配置在所述被检测体的上部,并且利用从所述被检测体反射的激光阵列来测量所述被检测体的平坦度。因此,可精密地测量如玻璃基板这样的被检测体的平坦度,由此可通过玻璃基板的平坦度的补偿来降低显示装置的工序不良。 | ||
搜索关键词: | 检测 平坦 测量 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星显示有限公司,未经三星显示有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110244239.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:自主机器的任务完成时间估计
- 下一篇:线圈部件