[发明专利]一种源区自对准垂直沟道MOS集成电路单元及其实现方法在审

专利信息
申请号: 202110249557.9 申请日: 2021-03-08
公开(公告)号: CN113013234A 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 李平;胡兆晞;廖永波;聂瑞宏;彭辰曦;李垚森;冯轲 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/10 分类号: H01L29/10;H01L29/06;H01L29/08;H01L29/417;H01L29/423;H01L29/66;H01L29/78;H01L21/336;H01L21/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 本发明涉及微电子技术和集成电路领域,尤其涉及一种自对准MOSFET结构及其制造方法。基于此前提出的纵向基本单元结构,为了进一步提高集成度,本发明专利提出了一种新型的纵向器件结构的制造工艺和实现方法。由于更多地利用纵向上的空间,也通过源区自对准的特殊工艺,免去了器件表面开孔的面积占用,每个器件在平面维度上几乎只占用了源栅漏电极的有效区域,而不需要多余的面积占用,集成度大大提高。
搜索关键词: 一种 对准 垂直 沟道 mos 集成电路 单元 及其 实现 方法
【主权项】:
暂无信息
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