[发明专利]一种新型DRAM结构及实现方法在审

专利信息
申请号: 202110252584.1 申请日: 2021-03-08
公开(公告)号: CN113013167A 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 李平;唐瑞枫;廖永波;彭辰曦;李垚森;聂瑞宏;冯轲 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L21/8242;H01L29/423
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种新型DRAM结构及实现方法,包括纵向环栅结构晶体管和沟槽电容器。其中纵向结构晶体管的栅极可以自定义实现单面、双面、三面或四面导电,具有极大的灵活性。同时,DRAM结构连接的电容采用沟槽电容器,其与纵向结构晶体管通过另一深沟槽进行隔离,沟槽既用于形成晶体管,同时也形成电容,该工艺方法完全兼容现有CMOS工艺,结构整体可以根据需要做在不同的P阱或N阱中,对应形成NMOSFET或PMOSFEET。计算结构和存储结构直接相连,可实现存算一体。
搜索关键词: 一种 新型 dram 结构 实现 方法
【主权项】:
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