[发明专利]基于单晶衍射仪的广角散射测试方法及装置在审
| 申请号： | 202110253554.2 | 申请日： | 2021-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN113049617A | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 缪晓和 | 申请（专利权）人： | 西湖大学 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人： | 李珍珍 |
| 地址： | 310000 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于单晶衍射仪的广角散射测试方法及装置，该方案包括以下步骤：对样品进行制样并置于样品台上；将样品与单晶XRD中心对中；选定X射线光源，使得X射线光源对准样品，其中所述X射线光源为铜靶与钼靶切换配合；设定样品与单晶XRD面探测器间的距离，设定曝光时间用以收集散射信号；通过二维面探测器采集散射后的X射线；积分二维散射谱图得到X射线一维衍射角2theta图或相位角gamma图，本方案结合单晶XRD的点焦及二维面探的特点，拓展了单晶XRD的应用领域，且兼容固态与液态材料的表征，对材料的容忍度极高，兼顾透射与掠入射模式的广角散射，快速、高效、经济。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 衍射 广角 散射 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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