[发明专利]一种调整芯片参数的测试方法在审
| 申请号： | 202110256152.8 | 申请日： | 2021-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN113049943A | 公开（公告）日： | 2021-06-29 |
| 发明（设计）人： | 夏霜;金善智;曹余新 | 申请（专利权）人： | 普冉半导体（上海）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海元好知识产权代理有限公司 31323 | 代理人： | 张静洁;曹媛 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种调整芯片参数的测试方法，该方法包括：S1、获取芯片在测试时的芯片参数；S2、判断所述芯片在测试时的芯片参数是否在设定范围之内，若否，根据该芯片参数与芯片可调整变量之间的对应关系确定所述芯片调整至目标值所需的可调整变量组合；S3、将所述可调整变量组合赋值给芯片，进而使芯片参数达到最优。根据测量到的芯片参数，找到该芯片参数与可调整变量之间对应关系，进行二维或多维的动态调整，达到最优可调整变量组合，进而保证芯片参数的稳定性与平衡性，减小芯片收批次不同的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 调整 芯片 参数 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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