[发明专利]一种纳米网的制备方法在审

专利信息
申请号: 202110270117.1 申请日: 2021-03-12
公开(公告)号: CN113173553A 公开(公告)日: 2021-07-27
发明(设计)人: 张青竹;田佳佳;李俊杰;吴次南;张兆浩;殷华湘;刘战峰;毛淑娟;张静;王文武;屠海令 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: B81B7/00 分类号: B81B7/00;B81C1/00
代理公司: 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 代理人: 佟林松
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种垂直纳米网的制备方法,采用两次自对准的侧墙转移技术工艺形成纳米尺度两层侧墙交叉阵列,利用反应离子刻蚀(RIE)刻蚀氧化硅与氮化硅,形成氮化硅纳米网阵列,再以SiNx纳米网阵列为掩膜刻蚀衬底硅,形成垂直纳米纳米网阵列,最后通过酸性溶液腐蚀残留的氮化硅和氧化硅,制备出高纯度、无损伤、有序垂直排列的硅纳米网阵列。
搜索关键词: 一种 纳米 制备 方法
【主权项】:
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